»óÅÂÆø¹ß: Á¤Çü°ËÁõ : Á¤¸®Áõ¸í(¼öÇÐ/¸íÁ¦)/¸ðµ¨Ã¼Å·(ÀÚµ¿°ËÁõ/ÀԷ¸ðÇü)/SAT(ºÒ¸°?ÇÔ¼öÀÌ¿ë/¼º°ø¿©ºÎÆÇ´Ü)/ÀÌÄ÷¹ß¶õ½ºÃ¼Å·(FSM/BDD or SAT 2°³¸¸¼±ÅÃ, °á°ú¸¦ ºñ±³) 1. °¡.°³³ä : ÁÖ¾îÁø ½Ã½ºÅÛ ¶Ç´Â ÄÄÆ÷³ÍÆ®ÀÇ ¸ðµç ¿ä±¸»çÇ׿¡ ´ëÇÑ Å×½ºÆ® ¶Ç´Â Å×½ºÆ® ÄÉÀ̽ºÀÇ Æò°¡Ã´µµ Á¦°øÀ§ÇÑ ±¸Á¶±â¹Ý ±â¹ý ³ª.Á߿伺 : SWÇ°ÁúÀÇ Á¤·®È­, SW¿À·ù¿øÀÎ/ºÐÆ÷ ŽÁö 2. °¡.Á¾·ù 1) Á¦¾îÈ帧±â¹Ý : ±¸¹®(SC), °áÁ¤(DC), Á¶°Ç/°áÁ¤(C/DC), º¯ÇüÁ¶°Ç°áÁ¤(MCDC), ´ÙÁßÁ¶°Ç(MCC) 2) ÀÚ·áÈ帧±â¹Ý :All Node(AN, º¸À强 ³·À½), All Edge(AE, È¿À²Àû), All Defs(AD, ƯÁ¤º¯¼ö °ªÀÌ º¯°æÀü¿¡ È°¿ëµÇµµ·Ï Path ¼³Á¤, °£´Ü), All Uses(AU, ³ëµåÀÇ º¯¼ö¿¡ ´ëÇØ dcu, dpu ¸¸Á·ÇÏ´Â Path ¼±Á¤, AN Æ÷ÇÔ), All DU Paths(¸ðµç Path¸¦ Æ÷ÇÔ½ÃÄÑ Å×½ºÆ®ÄÉÀ̽º ¼±Á¤, AUº¸´Ù °­·Â) ³ª.ÃÖÀûÈ­ ¹æ¹ý - Pairwise Test, Orthogonal Array Test, Mutation Test ÅëÇÑ Å×½ºÆ®ÄÉÀ̽º ÃÖÀûÈ­ÇÏ¿© Å×½ºÆ® ÅõÀÔ ºñ¿ë È¿À²¼º È®º¸ ÇÊ¿ä